RD 1
Cate bistabile sunt necesare pentru implementarea controllerului TAP, aferent standardului IEEE 1149,1?
4
2
16
32
6
8
Care sunt dezavantajele testarii on-line concurente?
Necesita echipamente de test automat
Latenta foarte mare
Nu se pot detecta defecte tranzitorii
Hardware suplimentar mare
Care dintre urmatoarele cauze influenteaza costul ridicat al testarii?
Costul testarii insasi
Costul fabricatiei
Costul ATPG-urilor
Costul aducerii in service a unor sisteme (ex: automobile); din cauza unor componente electrice cu probleme
Costul proiectarii
Costul echipamentelor de test automat
Care este arhitectura de sistem care asigura cel mai bun compromis intre siguranta si disponibilitate?
2oo3
2oo2
1oo2D
2oo2D
1oo2Dcomp
. Ce valori au variabilele XXX si YYY din afirmatia urmatoare? “Un domeniu de acceptare larg, pentru un test de acoperire, se asociaza cu o sensibilitate XXX si o specificatie YYY”
XXX=scazuta, YYY=scazuta
XXX=inalta, YYY=scazuta
XXX=inalta, YYY=inalta
XXX=scazuta, YYY=inalta
Ce relatie exista intre MTBFtmr si MTBF-ul unei componente (MTTFsampler)?
MTBFtmr< MTTFsimplex
MTBFtmr> MTTFsimplex
MTBFtmr= MTTFsimplex (ceva ciudat la c-ul asta, identic cu b)
Ce alte tehnologii de testare trebuie aplicate, in afara celei de tip blocat-la-0(1), pentru o mai buna acoperire a defectiunilor?
Testarea functionala
Testarea utilizand algoritmul D (?)
Simularea cu defect paralela
Simularea cu defect concurenta
Testare Iddq + delay daca apare
Testare utilizand metoda caii critice
. Care este fiabilitatea unui sistem TMR, daca z=cst si Rvot(1)=1?
Rtmr(t)=3e^(-2lambda*t)- 2e^(-3lambda*t)
Care sunt avantajele testului fun
Evaluare usoara a gradului de acoperire a defectelor
Nu necesita cunoasterea netlist-ului
Are capabilitati de diagnoza
Este independent de specificatii
Permite testarea at-speed
Poate fi generat automat
Care sunt instructiunile obligatorii, conform standardului IEEE 1149,1?
RunBIST
Sample/Preload
Bypass
Intest
Extest
IdCode
Highz
Clamp
Care sunt avantajele simulatoarelor hardware?
Eficienta
Flexibilitate
Viteza de lucru mare
Cost
Care este complexitatea algoritmului March de testare a unei memorii: {↕(w0); ↑(r0,w1); ↓(r1, w0); ↕(r0)}?
4ln(n)
6ln(n)
6n
4n
“Din punct de vedere al sigurantei, software-ul esueaza in mod diferit fara de hardware”. Care dintre urmatoarele argumente vin in sprijinul afirmatiei anterioare?
In mod uzual, riscul legat de software nu descreste odata cu cresterea experientei de operare
Software-ul nu aduce mai multa flexibilitate, fata de hardware
Doua module software diferite nu esueaza in mod independent
In software nu trebuie aplicata aceeasi disciplina ca in hardware
Asociati notiunile cu definitiile corespunzatoare: Notiuni: 1. Controlabilitate, 2. Observabilitate; 3. Predictibilitate Definitii: A. Abilitatea de a obtine valori cunoscute pe iesiri ca raspuns la un set de stimuli de intrare B. Abilitatea de a stabili o valoare de semnal specificata intr-un anumit nod al circuitului prin setarea de valori pe intrarile primare C. Abilitatea de a determina valoarea semnalului dintr-un anumit nod al circuitului prin controlul intrarilor primare si observarea iesirilor primare
1-a, 2-c, 3-a
1-c, 2-a, 2-b
1-a, 2-b, 3-c
1-b, 2-a, 3-c
1-b, 2-c, 3-a
1-c, 2-b, 3-a
Care dintre urmatoarele ipoteze sunt specifice modelului Jelinski -Moranda de evaluare afiabilitatii programelor?
Intervalele de timp intre detectarile succesive sunt varibile aleatoare independente, distribuite dupe legi exponentiale, cu parametri posibil diferiti
La fiecare defectare a programului se efectueaza o depanare de durata neglijabila pin care se elimina o fractie data c, constanta din numarul total de erori N
Se ia in considerare atat timpul de operare alm programului cat si timpul de testare
Rata de defectare este propotionala cu numarul de erori latente ale programului
Care dintre raspunsurile urmatoare este corect?
1)In circuitele TTL defecte de tip scurtcircuit se modeleaza prin porti logice SAU
2) In circuitele CMOS defectele de tip scurtcircuit se modeleaza prin porti logice SI
Niciunul
1 si 2
Doar 1
Doar 2
Care este ordinea de aplicare a modurilor de lucru, in regim de testare, conform standardului IEEE 1149,1?
SCAN->CAPTURE->UPDATE->SCAN
SCAN->UPDATE->CAPTURE->SCAN
CAPTURE->SCAN->UPDATE->SCAN
UPDATE->SCAN->CAPTURE->SCAN
Care dintre relatiile de cazualitate este cea corecta?
Esec->defect->defectiune
Defectiune->defect->esec
Defectiune->esec->defec
Defect->defectiune->esec
Esec->defectiune->defect
Defect->esec->defectiune
Care dintre urmatoarele reguli sunt din categoria regulilor ad-hoc de proiectare pentru testabilitate?
Furnizarea a doua ceasuri, unul pentru functionarea normala si unul pentru testare (clock-scan).
Partitionarea numaratoarelor si a registrilor de deplasare
Evitarea utilizarii redundantei logice
Furnizarea de logica pentru intreruperea buclelor de feedback
Utilizarea tehnicii de scanare marginala
Folosirea de registrii LSSD
Unde se poate folosi simularea cu defect?
La evaluarea gradului de configurabilitate al circuitului
Pentru a convinge managerul ca echipa de testare lucreaza eficient
La calculul gradului de acoperire al defectiunilor
La constructia dictionarului de defecte, pentru diagnoza ulterioara
La analiza testabilitatii
La analiza operarii circuitului, in prezenta defectelor
Care dintre urmatoarele costuri sunt legate de procesul de testare?
Costul generarii vectorilor de test
Costul generarii informatiei de localizare a defectelor
Costul legat de plata managerilor
Costul echipamentului de productie a unitatii testate
Cate cellule Boundary Scan sunt necesare pentru un pin bidirectional?
2
3
1
4
Pentru testul de interconexiuni dintre circuitele cu boundary scan din figura,
circuite realizatein tehnologia TTL, care dintre urmatoarele secvente de iesire este
cea corecta, daca secventa de intrare este xxxx100xxxxxxxxxx?
circuite realizatein tehnologia TTL, care dintre urmatoarele secvente de iesire este
cea corecta, daca secventa de intrare este xxxx100xxxxxxxxxx?
Xx..xxx0100
Xx…xxx0010
Xxx…xx1100
Xxx…xx0011
Identificati variantele cu semnalele corecte, aferente celulei. Registrul de
instructiuni IEEEI 148.1 din figura de mai jos.
instructiuni IEEEI 148.1 din figura de mai jos.
Capture2
4-Mode si 6-UpdateIR si 9-TRST
4-ShiftIR si 6-Mode si 9-Reset
4-ShiftIR si 6-UpdateIR si 9-TRST
4-ShiftIR si 6-Update si 9-Reset
Care dintre urmatoarele variante sunt corecte pentru circuitul
de mai jos?
Capture3
de mai jos?1-TDI si 3-TCK
2-TSM si 3-TCK
2-TSM si 4-TDO
1-TDI si 4-TDO
Care dintre urmatoarele formule reprezinta coeficientii de dispensibilitate si de propotie a disponibilitatii, sunt corecte?
Ka (coef de disponibilitate) = MTBF/(MTBF+MTR), Kd (prop disponibilitatii) = MTR/MTBF
Nici o formula nu este corecta
Numai formula pentru Kd este corecta
Numai formula pentru Ka este corecta
Ambele formule sunt corecte
Cu notatiile din curs care dintr urmatoarele formule seste cea corecta?
Z(t) = delta ni/(delta ti * N)
8. Care dintre componentele vietii unui produs apartin perioadei TTM (Time to market)
Vanzare si distributie
Planificarea procesului de productie
Mentenanta
Controlul calitatii
Instalare si functionare
. Care dintre urmatoarele elemente fac parte dintre principiile de managementul calitatii, conform standardului ISO 9000:2015?
Relatia cu bancile, in beneficiul reciproc
Imbunatatirea continua
Orientarea spre cerintele societatii
Abordarea sistemica a managementului
Implicarea angajatilor
Care este valoarea probabilitatii de supravietuire a unui lot de produse la momentul t=m (MTBF)?
E^1
E^-2m
E^-2*m
E^-1/2
E^-1
E^1/2
Notiunea de "aliasing"/alianta in testare se refera la:
O combinatie de intrare poate rezulta in iesiri corecte, chiar daca un defect este prezent in circuit
Un test se poate folosi pentru detectarea mai multor defecte bblocat la duale in circuit
Un echipament de testare poate fi utilizat pentru testarea mai multor circuite care au aceeasi structura
In testarea circuitelor digitale, compactarea iesirii se refera la:
Proiectarea circuitului cu mai putine iesiri pentru o testabilitate marita
Mentinerea iesirii la o stare de impedanta mai mare pentru testarea unui alt circuit
Calcularea semnaturii digitale a iesirilor pentru nevoia de stocare a datelor mari
Testarea in-circuit:
A) verificarea componentelor deja montate pe placa
Care este motivul principal al cresterii dinamice a tensiunii si frecventei in procesor?
Performanta mai buna
Durata de viata mai luna a bateriilor
Testabilitate mai usoara
Conform principiului pareta X% dintre efecte sunt produse de Y% din cauze. Care sunt valorile corecte pt X si Y?
X = 20, Y = 20
X = 50, Y = 50
X = 20, Y = 80
X = 80, Y =20
Care sunt componentele desingului pentru x-ability intr-un mediu ingineresc concurrent?
Reliability, Diagnosability, Manufactarability, Integrability, Testability, Verifiability, Commissionabillity
Defect detectat
Daca raspunsul produs este diferit de raspunsul asteptat in circuit fara defect
Definiti fiabilitatea d.p.d.v calitativ:
Aptitudinea unui sistem de a indeplini corect functiunile prevazute, pe durata unei perioade de timp in conditii de exploatare specifice
Definiti notiunea de „asigurare a calitatii”
Act de a da incredere, starea de a fi sigur sau actul de a face sigur
Toate activitatile planificate si sistematice implementate in cadrul sistemului de calitate, care pot fi demonstrare pentru a oferi incredere ca un produs sau serviciu va indeplini cerintele de calitate.
La ce activitati din cadrul unei campanii se refera standardele ISO 9001 si 10012-2?
Pentru asigurarea calitatii in proiectare, dezvoltare, productie, instalare si service.(asta e pt ISO 9001)
Ce componente integreaza ingineria concurenta?
Componente: Testable Synthesis + BIST(Build In Self Test)
Definiti notiunea de „test”
Tinde sa minimizeze nivelul de defect;
: Diagnosticarea si localizarea defectelor;
: Imbunatatirea procesului de productie si a fazei de test.
Setul de operatii care poate spune daca o unitate fabricata lucreaza corect in concordanta cu specificatiile sale sau nu.
Care sunt dispozitivile logice pentru realizarea operatiei de suma modulo 2, memorie de un bit si multiplicare cu o constanta binara in Bistabil?
R: Comparator de paritatea; numarator de tranzitii si LFSR
Which sequences would work properly? Mark all the correct answers
0%
0
0%
0
0%
0
{"name":"RD 1", "url":"https://www.quiz-maker.com/QPREVIEW","txt":"Cate bistabile sunt necesare pentru implementarea controllerului TAP, aferent standardului IEEE 1149,1?, Care sunt dezavantajele testarii on-line concurente?, Care dintre urmatoarele cauze influenteaza costul ridicat al testarii?","img":"https://www.quiz-maker.com/3012/images/ogquiz.png"}